Mieux comprendre la nano-structuration des matériaux les plus divers, ceux de la micro-électronique et du numérique du futur, des nouvelles technologies pour l'énergie comme les batteries, ou des tissus biologiques : voici un enjeu important pour le développement de matériaux innovants.
Dans ce contexte, le CEA-Irig et Grenoble INP-UGA se dotent, avec le soutien du labex Cemam, d'un équipement de toute dernière génération : une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (FIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d'un canon à émission de champ (PFIB-SEM). La sonde ionique permet d'abraser localement la matière, laquelle est alors observée par le microscope à des résolutions nanométriques. A la clé, de nouvelles possibilités pour l'imagerie 3D et la préparation d'échantillons de matériaux de volumes plus grands, et pour l'observation in situ / operando de dispositifs.
Une expertise en nano-caractérisation à l'état de l'art mondial
Ce nouvel instrument a été inauguré le 1er juin 2023 sur la plateforme de nano-caractérisation avancée (PFNC), en présence de personnalités académiques, industrielles et politiques.
Installée au sein du campus Minatec, sur le site CEA de Grenoble, la PFNC regroupe plusieurs laboratoires dont les compétences sont au niveau mondial de l'état de l'art pour :
- enrichir le savoir-faire et l'expertise dans la nano-caractérisation ;
- développer de nouveaux outils et équipements d'analyse structurale et physico-chimique des nano-structures et des dispositifs ;
- proposer des projets communs entre recherche fondamentale, recherche appliquée et industrie, en nanosciences et nanotechnologies.
Dans cet environnement unique pour la caractérisation des matériaux, le nouvel instrument PFIB-SEM est un atout supplémentaire pour accompagner les programmes de R&D menés avec les partenaires académiques et industriels.