La Conférence annuelle sur le SOI et les technologies avancées intégrées sur silicium se tiendra à Grenoble du 1er au 4 avril 2019.

Cette conférence a pour objectif de rassembler tous les scientifiques et ingénieurs travaillant sur les nouveaux matériaux et les dispositifs avancés à l'échelle nanométrique. L'un des principaux objectifs de la conférence est de promouvoir la collaboration et les partenariats entre différents acteurs du monde de la recherche et de l'industrie.

Le CEA-Leti est partenaire officiel de l'évènement.

Liste des papiers présentés:

1. Impact Of Inter-Tier Coupling On Static And Noise Performance in 3D Sequential Integration Technology, P. Sideris, C. Theodorou, L. Brunet, P. Batude, G. Sicard, Univ. Grenoble Alpes, Univ. Savoie Mont Blanc, CNRS, Grenoble INP, IMEP-LAHC, CEA-LETI France
   
   
2. Vertical Heterojunction Ge0.92Sn0.08/Ge Gate-All-Around Nanowire pMOSFETs, Mingshan Liu, K. Mertens, N. von den Driesch, T. Grap, Stefan Trellenkamp, J.M. Hartmann, J. Knoch, D. Buca, Qing-Tai Zhao, 1Peter-Grünberg-
   Institute (PGI 9) and JARA-Fundamentals of Future Information Technologies, Forschungszentrum Jülich, 52428, Germany, RWTH Aachen University, Germany, HNF Jülich, Germany, CEA-LETI, France
   
   
3. Thin film BIMOS transistor for low power spiking neuron cell in 28nm FD-SOI CMOS technology, P. Galy, T. Bedecarrats, C. Fenouillet-Beranger, S. Cristoloveanu, CEA-LETI, IMEP, MINATEC, France
   
   
4. Pure boron monolayer to boost A2RAM performance, F. Tcheme Wakam, J. Lacord, M. Bawedin, S. Martinie, S. Cristoloveanu, T. Poiroux, CEA-LETI, IMEP-LAHC, France
   
   
5. Series Resistance Effects on the Back-gate Biased Operation of Junctionless Transistors, Dae-Young Jeon, So Jeong Park, M. Mouis, S. Barraud, Gyu-Tae Kim, G. Ghibaudo, Korea Institute of Science and Technology, Korea, IMEP-LAHC, CEA-LETI, France
   
   
6. Effect of reduced oxygen partial pressure SiGe condensation for the fabrication of ultra-thin SGOI substrates, D. Valenducq, O. Gourhant, E. Blanquet, F. Deprat, F. Abbate, V. Guyader, S. Pélissier, D. Rouchon, STMicroelectronics, SIMaP, CEA-LETI, France
   
   
7. Back-bias impact on variability and BTI for 3D-monolithic 14nm FDSOI SRAMs applications, D. Bosch, F. Andrieu, X. Garros, L. Ciampolini, A. Makosiej, O. Weber, J. Lacord, J. Cluzel, B. Giraud, G. Cibrario, L. Brunet, P. Batude, C. Fenouillet-Béranger, D. Lattard, J. P. Colinge, F. Balestra, M. Vinet, CEA-LETI, STMicroelectronics, UGA, INP, France
   
   
8. RF characterization and small signal extraction on 22 nm CMOS fully-depleted SOI technology, O.Kane, L.Lucci, P.Scheiblin, S. Lepilliet, F.Danneville,, CEA-LETI, IEMN, France
   
   
9. gm/ID-derivative Method for Threshold Voltage Extraction in Junctionless MOSFETs, T. Rudenko, A. Nazarov, V. Kilchytska, S. Barraud , D. Flandre, V. E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, Ukraine, Univ. cath. Louvain, Belgium, CEA-LETI, France
   
   
10. Design and development of silicon-based 3D arrays of coupled Quantum Dots, Y.J. Kim, B. Bertrand, L. Hutin, S. De Franceschi, T. Meunier, M. Vinet, CEA-LETI, CEA-INAC, Institut Néel, UGA, France
    
    
11. Modeling of the bridge threshold voltage in A2RAM cell, F. Tcheme Wakam, J. Lacord, M. Bawedin, S. Martinie, S. Cristoloveanu, T. Poiroux, CEA-LETI, IMEP-LAHC, France