SL-DRT-24-0404
Domaine | Nano-caractérisation avancée
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Domaine-S | Electronique et microélectronique - Optoélectronique
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Thème | Défis technologiques
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Theme-S | Sciences pour l’ingénieur
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Domaine de recherche | Nano-caractérisation avancée
Défis technologiques
Electronique et microélectronique - Optoélectronique
Sciences pour l’ingénieur
DRT
DCOS
SCCS
LCEF
Grenoble
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Intitule du sujet | Capteurs MEMS en régime chaotique pour amplification de la résolution
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Résumé du sujet | L'amélioration de la résolution des capteurs MEMS s'obtient toujours par une augmentation du cout du composant (surface) ou de son électronique (complexité et conso). Au vu des enjeux actuels de sobriété énergétique, il est essentiel d'explorer de nouvelles voies disruptives permettant de réduire les impacts liés à la haute performance des capteurs.
Le chaos est un phénomène déterministe exponentiellement sensible aux faibles variations. Peu étudié jusqu’à récemment, il peut s’implémenter de façon simple dans la dynamique des capteurs MEMS, afin d'amplifier les faibles signaux et d'augmenter la résolution. Il s’agit in fine d’une méthode de "in-sensor computing", permettant de s’affranchir d’une partie de l’électronique de mesure.
L’objectif de la thèse sera de créer le premier démonstrateur MEMS de "in-sensor computing" en régime chaotique. Pour ce faire, nous proposons d’étudier, par un travail approfondi de caractérisation/modélisation, ce nouveau régime de fonctionnement des capteurs MEMS déjà disponibles au DCOS/LICA (poutres M&NEMS et MUT). Ces premiers pas dans la compréhension du lien entre mesurande et réponse d'un MEMS en régime chaotique permettront de se projeter ensuite sur d’autres applications, notamment dans le domaine de la cryptographie.
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Formation demandée | Ingénieur physique appliquée ou en micro et nanotechnologie
Direction de la Recherche Technologique
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Informations | Département Composants Silicium (LETI)
Service Caractérisation, Conception et Simulation
Laboratoire Caractérisation Electrique et Fiabilité
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Université/école doctorale | Université Grenoble Alpes
Electronique, Electrotechnique, Automatique, Traitement du Signal (EEATS)
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Directeur de thèse | |
Personne à contacter par le candidat | BLARD
François
CEA
DRT/DCOS//LCEF
CEA / LETI
Département Composants Silicium
Laboratoire Caractérisation Electrique et Fiabilité
17, rue des Martyrs
38054 Grenoble Cedex 9
0438786035
francois.blard@cea.fr
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Date de début souhaitée | 10/01/2024 |