Pour une compréhension fine des matériaux ​​

PLATEFORME NANOCARACTÉRISATION​

Cette plateforme unique au monde, commune à trois instituts du CEA (CEA-Liten, CEA-Leti et IRIG) regroupe une cinquantaine d'équipements de caractérisation avancée. Organisée en centres de compétences (préparation des échantillons, microscopie électronique à balayage et en transmission, Rayons X, spectroscopies moléculaires, analyses de surface et analyses par faisceau d'ions), elle a vocation à accompagner les programmes de recherche du CEA via l'étude des matériaux, à cœur ou au niveau des surfaces et interfaces.

Les équipements de caractérisation permettent de sonder la structure (et la morphologie) des matériaux avec des échelles de résolution allant de quelques centaines de micromètresà l'Angstrom (WAXS, SAXS, SEM EBSD, TEM, HR-TEM, FIB SEM (3D), tomographie X…). Les informations sur la nature chimique, ainsi que les environnements chimiques et électroniques sont accessibles grâce aux analysesspectroscopiques (EELS, EDS…). Elles s'appuyent également sur les analyses de surfaces (comme par exemple XPS, TOF SIMS, Nano Auger) ou grâce aux analyses par spectroscopies vibrationnelles moléculaires (ex. Raman, FTIR).​